设备名称:
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X-射线单晶衍射仪
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型号:
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Gemini E
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产地:
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英国
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价值:
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220万元
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购置年份:
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2009年6月
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主要技术参数:
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1. EOS CCD探测器;
2.增强型Mo光源和增强型Cu光源;
3. 4圆kappa测角仪。
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应用领域:
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晶体结构或分子结构的常规测定(包括晶体的点阵常数,对称性,分子的三维立体结构,键长、键角、构型、构像及分子在晶格中的排列状况);分子绝对构型和晶体绝对结构;测定精密电子密度测量;孪晶结构分析;本仪器附有液氮低温装置,可以在低温下收集参数,因此可以测定一些常温下易风化、易分解的晶体。
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