设备名称：

X-射线单晶衍射仪

型号：

Gemini E

产地：

英国

价值：

220万元

购置年份：

2009年6月

主要技术参数：

1. EOS CCD探测器；

2.增强型Mo光源和增强型Cu光源；

3. 4圆kappa测角仪。

应用领域：

晶体结构或分子结构的常规测定（包括晶体的点阵常数，对称性，分子的三维立体结构，键长、键角、构型、构像及分子在晶格中的排列状况）；分子绝对构型和晶体绝对结构；测定精密电子密度测量；孪晶结构分析；本仪器附有液氮低温装置，可以在低温下收集参数，因此可以测定一些常温下易风化、易分解的晶体。