设备名称：

高分辨透射电子显微镜(HRTEM)

型号：

JEM-2100(UHR)

产地：

日本JEOL

价值：

350万元

购置年份：

2010年4月

主要技术参数：

1.加速电压：80 200KV；

2.最高放大倍数：150万倍；

3.分辨率：点分辨率为0.19nm，晶格分辨率为0.14nm；

JEM-2100高分辨透射电镜采用MS Windows™为基本操作界面，操作直观简便，不但具有优秀的电子光学系统，实现了计算机控制，还可以实现X-射线能谱仪(EDS)一体化控制，进行微区元素分析。

应用领域：

可以用于半导体工业、材料（金属、非金属）、生物医学、化工等领域的显微组织观察及衍射标定。由于其采用高亮度、高稳定性的LaB6电子枪，不但容易获得高分辨图像，还可以在进行纳米级高灵敏度分析时发挥巨大威力，同时对于纳米碳管、高分子材料等容易受强电子束损伤的材料，又能够非常方便地调整到最佳加速电压。与能谱仪结合，还可以在观察组织的同时进行材料的微区成分、点成分及元素的面分布等分析。